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Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | Buch

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Titel: Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | Zusatz: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Medium: Buch | Autor: Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xi / 178 S. | Auflage: 2003 | Sprache: Englisch | Seiten: 192 | Maße: 241 x 160 x 16 mm | Erschienen: 28.02.2003 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
  • Autor:
    Bashir M. Al-Hashimi
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2003
  • Anzahl der Seiten:
    192
  • Marke:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    2003
  • Titelzusatz:
    A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    140207235X
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 15. May 2025 und 21. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

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