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Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Buch (1998)

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Titel: Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Medium: Buch | Autor: Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xii / 191 S. | Auflage: 1998 | Sprache: Englisch | Seiten: 212 | Maße: 241 x 160 x 17 mm | Erschienen: 31.10.1998 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Delay Fault Testing for VLSI Circuits
  • Autor:
    Kwang-Ting Cheng
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1998
  • Anzahl der Seiten:
    212
  • Marke:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    1998
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik, CAD, Com
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0792382951
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 15. May 2025 und 21. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
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