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Michael Nicolaidis (u. a.) | On-Line Testing for VLSI | Buch | Englisch (1998)

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Titel: On-Line Testing for VLSI | Medium: Buch | Redaktion: Michael Nicolaidis (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: iv / 160 S. / 22 s/w Illustr. | Auflage: Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2, 1998 | Sprache: Englisch | Seiten: 168 | Maße: 260 x 183 x 14 mm | Erschienen: 30.04.1998 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    On-Line Testing for VLSI
  • Autor:
    Michael Nicolaidis
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1998
  • Anzahl der Seiten:
    168
  • Marke:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2, 1998
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Redaktion:
    Michael Nicolaidis
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0792381327
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 15. May 2025 und 21. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
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