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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems | Chattopadhyay

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Titel: Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems | Medium: Taschenbuch | Autor: Santanu Chattopadhyay | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: Einband - flex.(Paperback) | Sprache: Englisch | Seiten: 140 | Maße: 216 x 140 x 8 mm | Erschienen: 30.06.2020 | Anbieter: Anja's.

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  • Buchtitel:
    Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
  • Autor:
    Santanu Chattopadhyay
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2020
  • Anzahl der Seiten:
    140
  • Marke:
    CRC Press
  • Hersteller:
    CRC Press
  • Verlag:
    CRC Press
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, TECHNOLOGY & ENGI
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0367607093
  • Standardversand:
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  • Standardversand:
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  • Versand nach:
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