Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Thermal Aware Testing Techniques for Digital VLSI Circuits Arpita Dutta Buch

Ø 0.0

0 Bewertungen

49,90 €

Titel: Thermal Aware Testing Techniques for Digital VLSI Circuits | Medium: Taschenbuch | Autor: Arpita Dutta | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 136 S. | Sprache: Englisch | Seiten: 136 | Maße: 220 x 150 x 9 mm | Erschienen: 18.05.2017 | Anbieter: Buchbär.

Jetzt bei Ebay:

Buchtitel:

Thermal Aware Testing Techniques for Digital VLSI Circuits
Autor:

Arpita Dutta
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2017
Anzahl der Seiten:

136
Marke:

LAP Lambert Academic Publishing
Hersteller:

LAP Lambert Academic Publishing
Verlag:

LAP Lambert Academic Publishing
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3330075317

Standardversand:

DHL Paket kostenlos - Lieferung zwischen 14. May 2025 und 15. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Deutschland
Versand ausgeschlossen:

Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere