Delay Fault Testing for VLSI Circuits, Kwang-Ting (Tim) Cheng, Angela Krstic
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Eine Lösung finden können. CDs/DVDs/Vinyls können Kratzer aufweisen, Funktion sollte aber nicht beeinträchtigt sein. Funktionsweise sollte nicht beeinträchtigt sein. Knicke oder Lesespuren können vorhanden sein, auch leichte Wasserflecken sind möglich.
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ISBN-10:0792382951
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Buchtitel:Delay Fault Testing for VLSI Circuits
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Höhe:1.7 cm
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Gewicht:489 g
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Länge:24.1 cm
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Breite:16 cm
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ISBN:9780792382959
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Reihe:Frontiers in Electronic Testing
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:1998
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Anzahl der Seiten:212 Seiten
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Autor:Kwang-Ting (Tim) Cheng
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Verlag:Springer Us
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Publikationsname:Delay Fault Testing For Vlsi Circuits
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Sprache:Englisch
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