Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Xiao Liu (u. a.) | Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Buch

95,95 €

Titel: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Medium: Taschenbuch | Autor: Xiao Liu (u. a.) | Inhalt: xv / 108 S. / 21 s/w Illustr. / 38 farbige Illustr. / 108 p. 59 illus. / 38 illus. in color. | Ausstattung / Beilage: Previously published in hardcover | Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 | Sprache: Englisch | Seiten: 108 | Abbildungen: XV, 108 p. 59 illus., 38 illus. in color. | Maße: 7 x 155 x 235 mm | Erschienen: 23.08.2016 | Anbieter: Faboplay.

Jetzt bei Ebay:

Buchtitel:

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Autor:

Xiao Liu
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2016
Anzahl der Seiten:

108
Marke:

Springer, Springer, Berlin, Springer International Publishing
Hersteller:

Springer, Springer, Berlin, Springer International Publishing
Herstellernummer:

978-3-319-37594-6
Verlag:

Springer, Springer, Berlin, Springer International Publishing
Format:

Taschenbuch
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st ed. 2014
Schlagworte:

Correctness of VLSI Circuits, Design for Debug, Functional Error
ISBN:

3319375946

Standardversand:

DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 24. May 2025 und 30. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Deutschland
Versand ausgeschlossen:

Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere