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Santanu Chattopadhyay | Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and...

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Titel: Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems | Medium: Taschenbuch | Autor: Santanu Chattopadhyay | Einband: Kartoniert / Broschiert | Sprache: Englisch | Seiten: 140 | Maße: 216 x 140 x 8 mm | Erschienen: 30.06.2020 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Autor:

Santanu Chattopadhyay
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2020
Anzahl der Seiten:

140
Marke:

CRC Press
Hersteller:

CRC Press
Verlag:

CRC Press
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, TECHNOLOGY & ENGI
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

0367607093

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