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Rajit Karmakar | Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip | Buch

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  • Buchtitel:
    Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip
  • Autor:
    Rajit Karmakar
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2017
  • Anzahl der Seiten:
    148
  • Marke:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Hersteller:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Verlag:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3330017171
  • Standardversand:
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