Soft Error Reliability of VLSI Circuits Mohsen Raji
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Titel: Soft Error Reliability of VLSI Circuits, Untertitel: Analysis and Mitigation Techniques, Einband: Buch, Autor: Mohsen Raji, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 128, Maße: 241x160x13 mm, Gewicht: 366 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Process Variation Aware Soft Error Rate Estimation Soft Error Mechanisms Soft Error Modeling Soft Error Rate Estimation of VLSI circuits Soft Errors in Modern Electronic Systems.
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Seiten:128
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Gewicht:366
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Einband:Buch
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Marke:Springer International Publishing, Springer International Publ...
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Soft Error Reliability of VLSI Circuits
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Buchtitel:Soft Error Reliability of VLSI Circuits
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Untertitel:Analysis and Mitigation Techniques
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Process Variation Aware Soft Error Rate Estimation Soft Error...
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ISBN:9783030516093
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2020
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Anzahl der Seiten:128 Seiten
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Autor:Mohsen Raji
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Verlag:Springer International Publishing
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Publikationsname:Soft Error Reliability of Vlsi Circuits
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Sprache:Englisch
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