Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits Selahattin Sayil
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Titel: Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits, Einband: Buch, Autor: Selahattin Sayil, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 148, Maße: 246x173x14 mm, Gewicht: 437 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: CMOS Design & Reliability textbook Interconnect Noise Radiation Induced Soft Error VLSI Design for Reliability textbook VLSI Noise textbook.
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Verlag:Springer International Publishing, Springer International Publ...
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Autor:Selahattin Sayil
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Seiten:148
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Gewicht:437
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Einband:Buch
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Format:246x173x14 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:Springer International Publishing, Springer International Publ...
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
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Erscheinungsjahr:20220901
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
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Untertitel:Keine Angabe
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:CMOS Design & Reliability textbook Interconnect Noise Radiat...
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ISBN:9783031127502
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