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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Qiang Xu (u. a.) | Buch

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Titel: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Medium: Buch | Autor: Qiang Xu (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xv / 108 S. / 21 s/w Illustr. / 38 farbige Illustr. / 108 p. 59 illus. / 38 illus. in color. | Auflage: 2013 | Sprache: Englisch | Seiten: 124 | Maße: 241 x 160 x 11 mm | Erschienen: 27.06.2013 | Anbieter: Anja's.

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  • Publikationsname:
    Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
  • Autor:
    Qiang Xu
  • Produktart:
    Mathematik
  • Erscheinungsjahr:
    2013
  • Sprache:
    Englisch
  • Anzahl der Seiten:
    124
  • Marke:
    Springer International Publishing
  • Hersteller:
    Springer International Publishing
  • Verlag:
    Springer International Publishing
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
  • Ausgabe:
    2013
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3319005324
  • Standardversand:
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