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Vishwani D. Agrawal (u. a.) | Unified Methods for VLSI Simulation and Test...

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Titel: Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation | Medium: Buch | Autor: Vishwani D. Agrawal (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xii / 148 S. | Auflage: 1989 | Sprache: Englisch | Seiten: 164 | Maße: 241 x 160 x 14 mm | Erschienen: 30.06.1989 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
  • Autor:
    Vishwani D. Agrawal
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1989
  • Anzahl der Seiten:
    164
  • Marke:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    1989
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik, Verstehe
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0792390253
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 15. May 2025 und 21. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
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