High-Resolution X-Ray Scattering Ulrich Pietsch
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Titel: High-Resolution X-Ray Scattering, Untertitel: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Einband: Buch, Autor: Ulrich Pietsch, Verlag: Springer-Verlag Gmbh, Sprache: Englisch, Seiten: 408, Maße: 244x165x22 mm, Gewicht: 837 g, Verkäufer: buch-stadl, Schlagworte: Beugung (technisch) Diffraktion Chemie (physikalisch) Physik / Chemie Physikalische Chemie Oberfläche Nanotechnologie Technologie / Nanotechnologie Materialwissenschaft Laser (physikalisch) Optik Semiconductor X-ray scattering crystal diffraction nanostructure quantum dot thin film thin films.
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Seiten:408
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Gewicht:837
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Einband:Buch
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Marke:Springer-Verlag Gmbh
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:High-Resolution X-Ray Scattering
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Buchtitel:High-Resolution X-Ray Scattering
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Untertitel:From Thin Films to Lateral Nanostructures
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Beugung (technisch) Diffraktion Chemie (physikalisch) Physi...
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ISBN:9780387400921
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Reihe:Advanced Texts in Physics
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2004
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Anzahl der Seiten:Xvi Seiten
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Autor:Ulrich Pietsch
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Verlag:Springer-Verlag Gmbh, Springer Us
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Publikationsname:High-Resolution X-Ray Scattering
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Sprache:Englisch
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