High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures. Pi
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2nd ed. New York, Springer, 2004. XVI, 408 Hardcover Sprache: Englisch ISBN: 0387400923 EAN: 9780387400921 Bestell-Nr: 2491896 Bemerkungen: Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 .
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