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High-Resolution X-Ray Scattering

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High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures. Schlagworte: Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Elektronische Geräte und Materialien, Lasertechnik und Holographie, Materialwissenschaft / Aggregatzustände, Optische Physik, Beugung (technisch), Diffraktion, Chemie (physikalisch), Physik / Chemie, Physikalische Chemie, Oberfläche, Nanotechnologie, Technologie / Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Laser (physikalisch), Optik.

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EAN:

9780387400921
ISBN:

0387400923
Schlagworte:

Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Elektronische Geräte und Materialien, Lasertechnik und Holographie, Materialwissenschaft / Aggregatzustände, Optische Physik, Beugung (technisch), Diffraktion, Chemie (physikalisch), Physik / Chemie, Physikalische Chemie, Oberfläche, Technologie / Nanotechnologie, Laser (physikalisch), Optik
Titelzusatz:

From Thin Films to Lateral Nanostructures
Buchtitel:

High-Resolution X-Ray Scattering
Reihe:

Advanced Texts in Physics
Produktart:

Lehrbuch
Format:

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr:

2004
Anzahl der Seiten:

Xvi Seiten
Autor:

Ulrich Pietsch
Verlag:

Springer-Verlag Gmbh, Springer Us
Publikationsname:

High-Resolution X-Ray Scattering
Sprache:

Englisch

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