Applied Scanning Probe Methods V Bharat Bhushan
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Titel: Applied Scanning Probe Methods V, Untertitel: Scanning Probe Microscopy Techniques, Einband: Buch, Autor: Bharat Bhushan, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 392, Maße: 241x160x27 mm, Gewicht: 752 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie AFM PES Polymer REM Raman spectroscopy Spectroscopy ceramics elasticity liquid microscopy modeling.
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Seiten:392
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Gewicht:752
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Einband:Buch
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Marke:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Applied Scanning Probe Methods V
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Buchtitel:Applied Scanning Probe Methods V
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Untertitel:Scanning Probe Microscopy Techniques
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie AFM PES P...
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ISBN:9783540373155
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Reihe:Nanoscience And Technology
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2006
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Anzahl der Seiten:392 Seiten
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Autor:Harald Fuchs, Bharat Bhushan, Satoshi Kawata
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Verlag:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin
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Publikationsname:Applied Scanning Probe Methods V
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Sprache:Englisch
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