Applied Scanning Probe Methods IX Bharat Bhushan
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Titel: Applied Scanning Probe Methods IX, Untertitel: Characterization, Einband: Taschenbuch, Autor: Bharat Bhushan, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 448, Maße: 235x155x25 mm, Gewicht: 674 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: AFM Fulleren Fullerene Nanotechnology Polymer REM STM Spectroscopy ceramics microscopy.
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Verlag:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Autor:Bharat Bhushan
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Seiten:448
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Gewicht:674
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Einband:Taschenbuch
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Format:235x155x25 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Applied Scanning Probe Methods IX
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Erscheinungsjahr:20101130
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Applied Scanning Probe Methods IX
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Untertitel:Characterization
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Applied Scanning Probe Methods IX
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:AFM Fulleren Fullerene Nanotechnology Polymer REM STM S...
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ISBN:9783642093418
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