Applied Scanning Probe Methods IX Bharat Bhushan
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Titel: Applied Scanning Probe Methods IX, Untertitel: Characterization, Einband: Buch, Autor: Bharat Bhushan, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 448, Maße: 241x160x30 mm, Gewicht: 834 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Materialwissenschaft AFM Fulleren Fullerene Nanotechnology Polymer REM STM Spectroscopy ceramics microscopy.
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Seiten:448
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Gewicht:834
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Einband:Buch
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Marke:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Applied Scanning Probe Methods IX
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Buchtitel:Applied Scanning Probe Methods IX
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Untertitel:Characterization
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Materialwissenschaft AFM Fulleren Fullerene Nanotechnology...
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ISBN:9783540740827
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Reihe:Nanoscience And Technology
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2008
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Anzahl der Seiten:448 Seiten
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Autor:Harald Fuchs, Masahiko Tomitori, Bharat Bhushan
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Verlag:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin
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Publikationsname:Applied Scanning Probe Methods Ix
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Sprache:Englisch
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