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Ugo Valdre | Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

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Titel: Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Ugo Valdre | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: viii / 319 S. / 156 s/w Illustr. / 3 farbige Illustr. | Auflage: 1988 | Sprache: Englisch | Seiten: 332 | Maße: 244 x 170 x 19 mm | Erschienen: 25.11.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Method
Autor:

Ugo Valdre
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

332
Marke:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

1988
Schlagworte:

Atomphysik, Kernphysik, Physik der kondensierten Materie, Flüssig
Redaktion:

Ugo Valdre
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461595398

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