Mos Grenzflächenphysik, Prozess und Charakterisierung von Shengkai Wang [Taschenbuch]
Ø 0.0
0 Bewertungen
56,31 €
Indeed, high quality MOS structure is the key to achieving high performance devices and integrated circuits.
Jetzt bei Ebay:
-
EAN:9781032106281
-
UPC:9781032106281
-
ISBN:9781032106281
-
Format:Paperback, 162 pages
-
Author:Shengkai Wang
-
Book Title:Mos Interface Physics, Process and Characterizatio
-
Item Height:0.9 cm
-
Item Length:22.9 cm
-
Item Weight:0.45 kg
-
Item Width:15.2 cm
-
Language:Eng
-
Publisher:CRC Press
-
Economy Shipping from outside:eBay SpeedPAK Economy 7,08 EUR - Lieferung zwischen 24. July 2025 und 06. August 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
-
Versand nach:Großbritannien, USA, Kanada, Irland, Australien, Deutschland, Frankreich, Italien, Singapur, Neuseeland, Polen, Belgien, Niederlande, Norwegen, Schweden, Schweiz
-
Versand ausgeschlossen:Isle of Wight , Indonesien , Malaysia , Thailand , Amerikanisch-Samoa , Französisch-Polynesien , Guam , Palau , Algerien , Angola , ... und weitere