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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials | Howe (u. a.)

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Titel: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials | Medium: Buch | Autor: James Howe (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xx / 764 S. | Auflage: Fourth Edition 2013 | Sprache: Englisch | Seiten: 784 | Maße: 241 x 160 x 47 mm | Erschienen: 14.10.2012 | Anbieter: Anja's.

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Buchtitel:

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Autor:

James Howe
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

784
Marke:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Hersteller:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Herstellernummer:

86078209
Verlag:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

Fourth Edition 2013
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Physik der kondensierten Materie
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3642297609

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