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Francis Leonard Deepak (u. a.) | Advanced Transmission Electron Microscopy | xii

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Titel: Advanced Transmission Electron Microscopy | Zusatz: Applications to Nanomaterials | Medium: Buch | Redaktion: Francis Leonard Deepak (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xii / 272 S. / 84 s/w Illustr. / 93 farbige Illustr. / 272 p. 177 illus. / 93 illus. in color. | Auflage: 2015 | Sprache: Englisch | Seiten: 284 | Maße: 241 x 160 x 21 mm | Erschienen: 25.06.2015 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Advanced Transmission Electron Microscopy
Autor:

Francis Leonard Deepak
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2015
Anzahl der Seiten:

284
Marke:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Hersteller:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Herstellernummer:

978-3-319-15176-2
Verlag:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

2015
Titelzusatz:

Applications to Nanomaterials
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Physik der konden
Redaktion:

Francis Leonard Deepak
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3319151762

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