Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Testen auf kleine Verzögerungsfehler im nanoskaligen CMOS Integ - Taschenbuch NEU Goel, Sa

Ø 0.0

0 Bewertungen

119,02 €

Author:-Goel, Sandeep K. Title:-Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems).

Jetzt bei Ebay:

Weight:

539grams
Subjects:

Engineering & Technology
Pages:

259
Size:

23.4 x 15.6 centimetres (0.45 kg
Topic:

Engineering
Book Title:

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Cir
ISBN:

9781138075771

Standardversand:

Royal Mail International Standard 9,62 EUR - Lieferung zwischen 24. May 2025 und 03. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Europa
Versand ausgeschlossen:

Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Naher Osten , Nordamerika , Ozeanien , Südostasien , Südamerika , Albanien , Andorra , ... und weitere