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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits Bhuvaneswari (u. a.)

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134,90 €

Titel: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits | Medium: Taschenbuch | Autor: M. C. Bhuvaneswari (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xi / 156 S. / 42 s/w Illustr. / 7 farbige Illustr. / 156 p. 49 illus. / 7 illus. in color. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 2019 | Sprache: Englisch | Seiten: 168 | Maße: 235 x 155 x 10 mm | Erschienen: 21.12.2018 | Anbieter: Buchbär.

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  • Buchtitel:
    Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
  • Autor:
    M. C. Bhuvaneswari
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2018
  • Anzahl der Seiten:
    168
  • Marke:
    Springer Singapore, Springer Nature Singapore
  • Hersteller:
    Springer Singapore, Springer Nature Singapore
  • Verlag:
    Springer Singapore, Springer Nature Singapore
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Softcover reprint of the original 1st edition 2019
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    9811347840
  • Standardversand:
    DHL Paket kostenlos - Lieferung zwischen 12. June 2025 und 13. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

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