VLSI Design and Test Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) Taschenbuch xxi Englisch 2017
Ø 0.0
0 Bewertungen
97,90 €
Titel: VLSI Design and Test | Zusatz: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxi / 815 S. / 486 s/w Illustr. / 815 p. 486 illus. | Auflage: 1st edition 2017 | Sprache: Englisch | Seiten: 840 | Maße: 235 x 155 x 45 mm | Erschienen: 22.12.2017 | Anbieter: Buchbär.
Jetzt bei Ebay:
-
Buchtitel:VLSI Design and Test
-
Autor:Brajesh Kumar Kaushik
-
Sprache:Englisch
-
Erscheinungsjahr:2017
-
Anzahl der Seiten:840
-
Marke:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
-
Hersteller:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
-
Herstellernummer:978-981-10-7469-1
-
Verlag:Springer Singapore, Springer Nature Singapore
-
Format:Taschenbuch
-
Genre:Importe
-
Ausgabe:1st edition 2017
-
Titelzusatz:21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29
-
Schlagworte:Hardware, Netzwerk-Hardware, Informatik, EDV, Bauelement, elektro
-
Redaktion:Brajesh Kumar Kaushik
-
Herstellungsland und -region:Deutschland
-
ISBN:9811074690
-
Standardversand:DHL Paket kostenlos - Lieferung zwischen 11. June 2025 und 12. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
-
Versand nach:Deutschland
-
Versand ausgeschlossen:Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere