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VLSI Design and Test Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) Taschenbuch xxi Englisch 2017

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Titel: VLSI Design and Test | Zusatz: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxi / 815 S. / 486 s/w Illustr. / 815 p. 486 illus. | Auflage: 1st edition 2017 | Sprache: Englisch | Seiten: 840 | Maße: 235 x 155 x 45 mm | Erschienen: 22.12.2017 | Anbieter: Buchbär.

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