TDCV CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN ULTRA THIN SIO2 KINDS OF FILMS Jean-Yves Ros
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Titel: TDCV CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN ULTRA THIN SIO2 KINDS OF FILMS, Untertitel: TDCV = Temperature Dependent Capacitance Voltage, Einband: Taschenbuch, Autor: Jean-Yves Rosaye, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 120, Maße: 220x150x8 mm, Gewicht: 197 g, Verkäufer: buch-mimpf.
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Seiten:120
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Gewicht:197
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Einband:Taschenbuch
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Marke:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Ph...
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Publikationstitel:TDCV CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN ULTRA THIN SIO2 KINDS OF F...
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Buchtitel:TDCV CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN ULTRA THIN SIO2 KINDS OF F...
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Untertitel:TDCV = Temperature Dependent Capacitance Voltage
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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ISBN:9783838351544
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2010
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Anzahl der Seiten:120 Seiten
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Autor:Jean-Yves Rosaye
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Verlag:Lap Lambert Academic Publishing
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Publikationsname:Tdcv Characterization of Defects in Ultra Thin Sio2 Kinds of Films
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Sprache:Englisch
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