Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR Internati
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ISBN-10:3642149790
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Buchtitel:Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Rec
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Untertitel:Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010
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Höhe:4.1 cm
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Gewicht:1092 g
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Länge:23.6 cm
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Breite:15.8 cm
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ISBN:9783642149795
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Reihe:Lecture Notes in Computer Science, Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, And Graphics
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2010
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Anzahl der Seiten:Xv Seiten
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Autor:Ilkay Ulusoy, Terry Windeatt, Francisco Escolano, Richard C. Wilson, Edwin R. Hancock
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Verlag:Springer-Verlag Gmbh, Springer Berlin
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Publikationsname:Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition
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Sprache:Englisch
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