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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Andrea Torsello

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Titel: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, Untertitel: Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2024, Venice, Italy, September 9-10, 2024, Revised Selected Papers, Einband: Taschenbuch, Autor: Andrea Torsello, Verlag: Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 212, Maße: 235x155x12 mm, Gewicht: 330 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Artificial Intelligence Computer Science Computer Systems Computer vision Image Analysis Machine Learning Neural Networks Signal Processing deep learning graph theory image processing mathematics pattern recognition.

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