Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield, Mo
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ISBN-10:1461417481
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Buchtitel:Nanometer Variation-Tolerant SRAM
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Untertitel:Circuits and Statistical Design for Yield
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Höhe:1.4 cm
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Gewicht:453 g
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Länge:24.1 cm
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Breite:16 cm
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ISBN:9781461417484
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2012
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Anzahl der Seiten:188 Seiten
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Autor:Mohab Anis
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Verlag:Springer Us, Springer New York
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Publikationsname:Nanometer Variation-Tolerant Sram
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Sprache:Englisch
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