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Mohab Anis (u. a.) | Nanometer Variation-Tolerant SRAM | Buch | Englisch (2012)

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Titel: Nanometer Variation-Tolerant SRAM | Zusatz: Circuits and Statistical Design for Yield | Medium: Buch | Autor: Mohab Anis (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xvi / 172 S. | Auflage: 2012 | Sprache: Englisch | Seiten: 188 | Maße: 241 x 160 x 14 mm | Erschienen: 27.09.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Nanometer Variation-Tolerant SRAM
Autor:

Mohab Anis
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

188
Marke:

Springer US, Springer New York
Hersteller:

Springer US, Springer New York
Herstellernummer:

80027346
Verlag:

Springer US, Springer New York
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

2012
Titelzusatz:

Circuits and Statistical Design for Yield
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461417481

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