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Manoj Sachdev (u. a.) | CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in...

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Titel: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Zusatz: Process-Aware SRAM Design and Test | Medium: Taschenbuch | Autor: Manoj Sachdev (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xvi / 194 S. | Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st edition 2008 | Sprache: Englisch | Seiten: 212 | Maße: 235 x 155 x 12 mm | Erschienen: 28.10.2010 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Techn
  • Autor:
    Manoj Sachdev
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2010
  • Anzahl der Seiten:
    212
  • Marke:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Hersteller:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Verlag:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Softcover reprint of hardcover 1st edition 2008
  • Titelzusatz:
    Process-Aware SRAM Design and Test
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    904817855X
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 10. July 2025 und 12. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
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