CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Proces
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Produktart:Bücher
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ISBN-10:1402083629
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ISBN-13:9781402083624
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Höhe:1.9 cm
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Länge:24.2 cm
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ISBN:9781402083624
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Breite:16 cm
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2008
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Anzahl der Seiten:Xvi Seiten
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Autor:Andrei Pavlov
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Verlag:Springer-Verlag Gmbh, Springer Netherland
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Sprache:Englisch
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Buchtitel:Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Gewicht:445 g
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Buchreihe:Frontiers in Electronic Testing
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