Key Concepts of Scanning Electron Microscopy (Gebundene Ausgabe) (US IMPORT)
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Produktart: Gebundene Ausgabe. Verlag: NY Research Press. Genre: Science Nature & Math. Gewicht: 513g. Länge: 152mm. Höhe: 229mm. Sprache: Englisch. Autor: No Author.
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Breite:16mm
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Autor:No Author
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Buchtitel:Key Concepts of Scanning Electron Microscopy
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EAN:9781632383068
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Erscheinungsdatum:16.01.2015
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Contributor:Lisa Page (Edited by)
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ISBN-10:1632383063
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ISBN:9781632383068
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Produktart:Gebundene Ausgabe
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Sprache:Englisch
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Höhe:229mm
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Länge:152mm
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Gewicht:513g
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Genre:Science Nature & Math
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Verlag:NY Research Press
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