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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Joseph Go*dstein (u. a.)

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Titel: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Medium: Buch | Autor: Joseph Go*dstein (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: XXIII / 550 S. / 137 s/w Illustr. / 409 farbige Illustr. / 550 p. 546 illus. / 409 illus. in color. With online files/update. | Ausstattung / Beilage: Book w. online files / update | Auflage: 4th edition | Sprache: Englisch | Seiten: 550 | Abbildungen: 86 schwarz-weiße und 348 farbige Abbildungen, Bibliographie | Maße: 285 x 215 x 35 mm | Erschienen: 18.11.2017 | Anbieter: Anja's.

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Buchtitel:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor:

Joseph Go*dstein
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2017
Anzahl der Seiten:

550
Marke:

Springer-Verlag GmbH, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer-Verlag GmbH, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer-Verlag GmbH, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

4th edition
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Spektroskopie, Spektrochemie, Ma
ISBN:

149396674X

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