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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability Jiann-Shiun Yuan Buch vi

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Titel: CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability | Medium: Taschenbuch | Autor: Jiann-Shiun Yuan | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: vi / 106 S. / 101 s/w Illustr. / 106 p. 101 illus. | Auflage: 1st edition 2016 | Sprache: Englisch | Seiten: 112 | Maße: 235 x 155 x 7 mm | Erschienen: 21.04.2016 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
Autor:

Jiann-Shiun Yuan
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2016
Anzahl der Seiten:

112
Marke:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Hersteller:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Herstellernummer:

978-981-10-0882-5
Verlag:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

1st edition 2016
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9811008825

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