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Stanislav Markov | Gate leakage variability in nano-CMOS transistors | Buch

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  • Buchtitel:
    Gate leakage variability in nano-CMOS transistors
  • Autor:
    Stanislav Markov
  • Sprache:
    Englisch
  • Anzahl der Seiten:
    184
  • Marke:
    VDM Verlag Dr. Müller
  • Hersteller:
    VDM Verlag Dr. Müller
  • Verlag:
    VDM Verlag Dr. Müller
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Technik
  • Titelzusatz:
    Modelling and simulation
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3639220994
  • Standardversand:
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