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Beschleunigte Lebensdauertests von One-Shot-Geräten: Datenerfassung und -analyse durch Na

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Topics covered include likelihood inference, competing-risks models, one-shot devices with dependent components, model selection, and more. Accelerated Life Testing of One-shot Devices by Narayanaswamy Balakrishnan, Man Ho Ling, Hon Yiu So.

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