Yung-Chun Wu Yi-R 3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic (Gebundene Ausgabe)
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Produktart: Gebundene Ausgabe. Ausgabe: 1st ed. Höhe: 235mm. EAN: 9789811030659.
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Autor:Yi-Ruei Jhan
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Verlag:Springer Verlag, Singapore
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Buchtitel:3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic Devices
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EAN:9789811030659
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ISBN:9789811030659
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Ausgabe:1st ed. 2018
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Genre:Technology & Engineering
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Thematik:Computing & Internet
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Erscheinungsdatum:05.07.2017
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Sprache:Englisch
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Herstellungsland und -region:SG
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Höhe:235mm
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Länge:155mm
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Produktart:Gebundene Ausgabe
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