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Youngsoo Shin (u. a.) | VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low...

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Titel: VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power | Zusatz: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers | Medium: Buch | Redaktion: Youngsoo Shin (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xiii / 223 S. / 121 s/w Illustr. / 223 p. 121 illus. | Auflage: 1st edition 2016 | Sprache: Englisch | Seiten: 240 | Maße: 241 x 160 x 19 mm | Erschienen: 13.09.2016 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
Autor:

Youngsoo Shin
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2016
Anzahl der Seiten:

240
Marke:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Hersteller:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Herstellernummer:

978-3-319-46096-3
Verlag:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

1st edition 2016
Titelzusatz:

23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Sca
Schlagworte:

Informatik, Schaltkreise und Komponenten , Bauteile, EDV, Hardwar
Redaktion:

Youngsoo Shin
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

331946096X

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