X-ray multiple-wave diffraction. Theory and application. Chang, Shih-Lin:
98,60 €
Berlin, Springer, 2010. xii, 431 Hardcover Sprache: Englisch ISBN: 3540211969 EAN: 9783540211969 Bestell-Nr: 2491877 Bemerkungen: Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05619 9783540211969 .
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