VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power Youngsoo Shin (u. a.)
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Titel: VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power | Zusatz: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Youngsoo Shin (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiii / 223 S. / 121 s/w Illustr. / 223 p. 121 illus. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 2016 | Sprache: Englisch | Seiten: 240 | Maße: 235 x 155 x 14 mm | Erschienen: 22.04.2018 | Anbieter: Buchbär.
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