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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, Ju

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This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions.

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ISBN-13:

9783642420238
Book Title:

VLSI Design and Test
ISBN:

9783642420238

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