Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures. An analysis of
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Berlin, Springer, 2003. Hardcover Sprache: Englisch ISBN: 3540004149 EAN: 9783540004141 Bestell-Nr: 2482638 Bemerkungen: Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-00136 9783540004141 .
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