Study on Yield Related Traits in Wheat Obaidullah Khan
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Titel: Study on Yield Related Traits in Wheat, Untertitel: Estimation of HeritabIlity and Genetic Advance for Yield and Yield Related Traits in Bread Wheat, Einband: Taschenbuch, Autor: Obaidullah Khan, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 100, Maße: 220x150x6 mm, Gewicht: 167 g, Verkäufer: buch-mimpf.
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Seiten:100
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Gewicht:167
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Einband:Taschenbuch
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Marke:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Bi...
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Publikationstitel:Study on Yield Related Traits in Wheat
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Buchtitel:Study on Yield Related Traits in Wheat
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Untertitel:Estimation of HeritabIlity and Genetic Advance for Yield and Y...
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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ISBN:9783659489051
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2013
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Anzahl der Seiten:100 Seiten
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Autor:Obaidullah Khan
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Verlag:Lap Lambert Academic Publishing
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Publikationsname:Study On Yield Related Traits in Wheat
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Sprache:Englisch
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