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Steve Kupke | Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors...

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  • Buchtitel:
    Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors consi
  • Autor:
    Steve Kupke
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2016
  • Anzahl der Seiten:
    124
  • Marke:
    Books on Demand GmbH, BoD - Books on Demand
  • Hersteller:
    Books on Demand GmbH, BoD - Books on Demand
  • Verlag:
    Books on Demand GmbH, BoD - Books on Demand
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
  • Ausgabe:
    1. Auflage
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik, Verstehe
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3741208698
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