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SQA Defect Prediction: An SVM Based In-Appendage Software Log Analysis Nandiredd

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Titel: SQA Defect Prediction: An SVM Based In-Appendage Software Log Analysis, Einband: Taschenbuch, Autor: Nandireddy Rajasekhar Reddy, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 176, Maße: 220x150x11 mm, Gewicht: 280 g, Verkäufer: buch-mimpf.

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