Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R (Chapman &
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EAN:9781482210200
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UPC:9781482210200
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ISBN:9781482210200
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Format:Hardback, 828 pages
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Breite:18 cm
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Gewicht:1.26 kg
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Höhe:4.6 cm
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Länge:25.7 cm
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Sprache:Eng
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