Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Räumliche Punktmuster: Methodik und Anwendungen mit R (Chapman &

Ø 0.0

0 Bewertungen

105,13 €

Jetzt bei Ebay:

EAN:

9781482210200
UPC:

9781482210200
ISBN:

9781482210200
Item Length:

25.7 cm

Economy Shipping from outside:

eBay SpeedPAK Economy 20,29 EUR - Lieferung zwischen 20. August 2025 und 02. September 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Großbritannien, USA, Irland, Australien, Deutschland, Frankreich, Italien, Niederlande, Singapur
Versand ausgeschlossen:

Isle of Man , Amerikanisch-Samoa , Französisch-Polynesien , Guam , Palau , Afghanistan , Armenien , Indien , Russische Föderation , Indonesien , ... und weitere