Weiche Fehlermechanismen, Modellierung und Minderung von Sayil, Selahattin [gebunden]
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His research focuses on Radiation effects modeling and hardening at the circuit level, Reliability analysis of low power designs, and Interconnect modeling and noise prediction.
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EAN:9783319306063
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UPC:9783319306063
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ISBN:9783319306063
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Book Title:Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation by
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Item Length:23.4 cm
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